鎖相熱成像技術參數_Optotherm IS640熱成像儀-立特為智能電話：l52l9504346 （溫先生）

關鍵詞： ?Optotherm IS640 SENTRIS，Thermal Emission Microscope system

1.?它的應用非常廣泛，去封裝的芯片分析，未去封裝的芯片分析，電容，FPC,甚至小尺寸的電路板分析（PCB、PCBA）,這也就讓你可以在對樣品的不同階段都可以使用thermal技術進行分析，如下圖示例，樣品電路板漏電定位到某QFN封裝器件漏電，將該器件拆下后發(fā)現漏電改善，對該器件焊引線出來，未開封定位為某引腳，開封后扎針上電再做分析，進一步確認為晶圓某引線位置漏電導致，如有需要可接著做SEM,FIB等分析。

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未開封器件分析

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開封器件分析

2. 它能偵測的半導體缺陷也非常廣泛，微安級漏電，低阻抗短路，ES擊傷，閂鎖效應點，金屬層底部短路等等，而電容的漏電和短路點定位，FPC,PCB,PCBA的漏電，微短路等也能夠精確定位

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lock-in鎖相分析

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開封芯片漏電分析

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GAN-SIC器件

3，它是無損分析：作為日常的失效分析，往往樣品量稀少，這就要求失效分析技術最好是無損的，而對于某些例如陶瓷電容和FPC的缺陷，雖然電測能測出存在缺陷，但是對具體缺陷位置，市場上的無損分析如XRAY或超聲波，卻很難進行定位，只能通過對樣品進行破壞性切片分析，且只能隨機挑選位置，而通過Thermal 技術，你需要的只是給樣品上電，就可以對上述兩種缺陷進行定位

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FPC缺陷分析

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電容缺陷分析

4,鎖相熱成像（LOCK IN THERMOGRAPHY）：利用鎖相技術，將溫度分辨率提高到0.001℃，5um分辨率鏡頭，可以偵測uA級漏電流和微短路缺陷，遠由于傳統(tǒng)熱成像及液晶熱點偵測法（0.1℃分辨率，mA級漏電流熱點）

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5，系統(tǒng)能夠測量芯片等微觀器件的溫度分布，提供了一種快速探測熱點和熱梯度的有效手段，熱分布不僅能顯示出缺陷的位置，在半導體領域

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在集成電路操作期間，內部結自加熱導致接合處的熱量集中。器件中的峰值溫度處于接合處本身，并且熱從接合部向外傳導到封裝中。因此，器件操作期間的精確結溫測量是熱表征的組成部分。

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芯片附著缺陷可能是由于諸如不充分或污染的芯片附著材料，分層或空隙等原因引起的。Sentris熱分析工具（如 圖像序列分析）可用于評估樣品由內到外的熱量傳遞過程，以便確定管芯接合的完整性。

OPTOTHERM Sentris 熱發(fā)射顯微鏡系統(tǒng)作為一臺專業(yè)為缺陷定位的系統(tǒng)，專為電子產品FA設計，通過特別的LOCK-IN技術，使用LWIR鏡頭，仍能將將溫度分辨率提升到0.001℃（1mK），同時光學分辨率最高達到5um,尤其其軟件系統(tǒng)經過多年的優(yōu)化，具有非常易用和實用，以下是OPTOTHERM Sentris 熱發(fā)射顯微鏡系統(tǒng)分析過程的說明視頻

LEADERWE (‘Leaderwe intelligent international limited?‘and ‘ShenZhen Leaderwe Intelligent Co.,Ltd‘)作為Optotherm公司中國代表（獨家代理），在深圳設立optotherm紅外熱分析應用實驗室，負責該設備的演示和銷售，如有相關應用，可提供免費評估測試服務。

深圳市立特為智能有限公司LEADERWE立為包括立為智能國際有限公司和深圳市立特為智能有限公司，是一家專業(yè)提供電子、材料等領域分析及檢測設備的綜合服務供應商！

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紅外熱成像儀（熱成像儀或紅外熱成像儀）是通過非接觸探測紅外能量（熱量），并將其轉換為電信號，進而在顯示器上生成熱圖像和溫度值，并可以對溫度值進行計算的一種檢測設備。
1.根據熱像儀分探測原理可以分為光子探測和熱探測兩種
熱成像儀有光子探測和熱探測兩種不同的原理。前者主要是利用光子在半導體材料上產生的電效應進行成像，敏感度高，但探測器本身的溫度會對其產生影響，因而需要降溫。熱探測器是指利用探測元件吸收入射的紅外輻射能量而引起溫升，在此基礎上借助各種物理效應把溫升轉變成電量的一種探測器。敏感度不如前者但是無需制冷。
由于熱探測器是利用輻射引起物體的溫升效應，因此，它對任何波長的輻射都有響應，所以稱熱探測器為無選擇性探測器，這是它同光子探測器的一大差別。熱探測器的發(fā)展比光子探測器早，但如今一些光子探測器的探測率已接近背景限，而熱探測器的探測率離背景噪聲限還有很大差距。
2.根據熱像儀工作的波段可以分為長波、短波、中波紅外熱像儀
還根據熱成像儀的工作波段、所使用的感光材料進行分類。常見熱成像儀工作在3到5微米或8到12微米，一般把8-12微米稱為長波段紅外熱像儀，3-5微米稱為短波紅外熱像儀，5-8微米是中波紅外熱像儀，這些都各有各自的優(yōu)缺點，常用感光材料則有硫化鉛、硒化鉛、硫化錮、硫錫鉛、硫鎘汞、摻雜儲和摻雜硅等。一般來說制冷型的紅外熱像儀采用的硫錫鉛、硫鎘汞等，非制冷的紅外熱像儀采用的是多晶硅，氧化釩等。
3.根據感光元件數量和運動方式，則有機械掃描、凝視成像型等。
4.根據是否測溫紅外熱像儀又分為成像型和測溫型，一般來說現在市面上測溫型的紅外熱像儀價格比成像型的價格高一些。成像型的紅外熱像儀畫面表現為溫度分布，但是并不具備測溫的功能。
鎖相熱成像技術參數_Optotherm IS640熱成像儀-立特為智能而言，被測目標的風速不應高于5m/s。若現場風速高于此標準，會導致被測物體散熱過快，是測量溫度偏低。3、紅外熱像儀使用中會產生輻射干擾其他設備運行嗎？會受到檢測，鎖相熱成像技術參數_Optotherm IS640熱成像儀-立特為智能健康等100余種疒癥，涉及人體各個系統(tǒng)的常見疒和多發(fā)疒。二是有利于疾疒早期發(fā)現。與x光、b超、ct等影像技術相比，遠紅外熱成像檢測最重要的一個優(yōu)勢就是早期預檠。，鎖相熱成像技術參數_Optotherm IS640熱成像儀-立特為智能貨商提供技術培訓和支持。相比于以上的那些參數的好壞，個人認為最重要的是售后，售后服務好的話，即便是產品相對差一點也沒關系，用起來也不會很扎心。但是如果售后都不好，鎖相熱成像技術參數_Optotherm IS640熱成像儀-立特為智能物體處于等溫狀態(tài)時，它發(fā)射出的能量和吸收的能量是相同的。因此，吸收率=發(fā)射率。以上公式變?yōu)椋喊l(fā)射率+反射率=100%還可以表述為：發(fā)射率=100%-反射率因此，。