FISCHER X-射線熒光測厚儀可測量所有電鍍層的厚度及分析物料成份：系統(tǒng)已經(jīng)預設有以XRF方法分析物料或溶液的成份和含量：這方法是根據(jù)ASTMB568,DIN60987及ISO3497的規(guī)格。XUL內(nèi)的X-射線管及比例接收器都是安裝在測量臺的下面，便形成了X-射線 由上而下 的測量方法；亦承繼了FISCHER最成功的X-射線測厚儀系列1000/1010/1020，這種設計給予許多方面的優(yōu)點。XUI以獨特的WinFTM軟件為系統(tǒng)的核心像其他FISCHERSCOPE X-射線熒光測厚儀能夠進行分析及測量程序，可以在不需要調(diào)校標準片而直接測量厚度，在測量一些復雜鍍層組合時準確性亦相當高。