針式測(cè)試機(jī)的特點(diǎn)對(duì)多品種少批量基板提供高速,高精度測(cè)試的解決方案。使用標(biāo)準(zhǔn)配備的4線式低阻測(cè)試功能除檢查IC引腳的開(kāi)焊外,亦可以對(duì)雖電氣導(dǎo)通但接觸不良(虛焊)的引腳潛在不良進(jìn)行測(cè)試。對(duì)使用歷來(lái)的檢查方式難以檢測(cè)的場(chǎng)效應(yīng)管(FET),繼電器(Relay),3端子調(diào)節(jié)閥(3leadsregulator)的動(dòng)態(tài)測(cè)試亦可完成?？赏ㄟ^(guò)增設(shè)I/O方式對(duì)應(yīng)將來(lái)可能增加的各種周邊設(shè)備及特殊測(cè)試要求。最適用于檢測(cè)IC引腳的虛焊,對(duì)焊接狀況提供品質(zhì)保證1240-01：大型基板的高速檢查(Max40步/秒,510x610mm)1240-02：使用于測(cè)試IC引腳的虛焊(是代替1114的新型號(hào))1240-03：中型基板的高速檢查(Max40步/秒,400x330mm)