產(chǎn)品描述HP9000LED芯片光色電參數(shù)綜合測(cè)試儀由LED光色電特性分析系統(tǒng)和LED芯片測(cè)試平臺(tái)組成。專用芯片測(cè)量平臺(tái)由樣品臺(tái)、三維探針架、光強(qiáng)測(cè)量支架、顯微鏡和電路控制盒等部分構(gòu)成，光強(qiáng)測(cè)量選用CIE-A條件，光纖耦合，能夠快速平穩(wěn)地點(diǎn)亮各種LED芯片，配合光譜測(cè)試系統(tǒng)即可測(cè)量芯片的各種光電色參數(shù)。具有測(cè)量參數(shù)分檔顯示功能，方便與各種分光分色測(cè)試機(jī)配套。