KDK-LT-100C數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀產(chǎn)品簡介 為解決太陽能單晶、多晶少子壽命測量，特按照國標(biāo)GB/T1553及SEMIMF-1535用高頻光電導(dǎo)法研制出了數(shù)字式少子壽命測試儀。 該設(shè)備是按照國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T1553 硅單晶少數(shù)載流子壽命測定的高頻光電導(dǎo)衰減法 設(shè)計制造。高頻光電導(dǎo)衰減法在我國半導(dǎo)體集成電路、晶體管、整流器件、核探測器行業(yè)已運用了三十多年，積累了豐富的使用經(jīng)驗，經(jīng)過數(shù)次全國十多個單位巡回測試的考驗，證明是一種成熟可靠的測試方法，特別適合于硅塊、硅棒研磨面的少子體壽命測量；也可對硅片進(jìn)行測量，給出相對壽命值。方法本身對樣品表面的要求為研磨面，制樣簡便。