本機(jī)器可模擬NCTE-BOOK（手機(jī)PDA）各種動(dòng)作之操作以了解產(chǎn)品在多次使用后各種零件的耐久狀況，由電腦設(shè)定測(cè)試動(dòng)作，可隨時(shí)更改或儲(chǔ)存，并可同時(shí)執(zhí)行數(shù)個(gè)測(cè)試動(dòng)作，一臺(tái)電腦可以同時(shí)控制數(shù)臺(tái)機(jī)器?！CTEBOOK-I上試規(guī)格：磁盤片插入，退出試驗(yàn)；光盤插入，退出試驗(yàn)；PCPIC工A插入，退出試驗(yàn)；電池插入，退出試驗(yàn)；各種接頭插入，退出試驗(yàn)（PRINT埠），（COM埠），USB，PS2等等。手機(jī)測(cè)試規(guī)格：天線上、下抽取試驗(yàn)；天線彎曲試驗(yàn)；電池插入、拔出試驗(yàn)；連接器插入、拔出壽命試驗(yàn)、ON、OFF開(kāi)關(guān)壽命試驗(yàn)；上開(kāi)、關(guān)閉壽命試驗(yàn)；短距離落下壽命試驗(yàn)；SIN卡插入、拔出壽命試驗(yàn)。PDA測(cè)試規(guī)格：CE卡插拔耐久試驗(yàn)．BATTERY蓋插拔耐久試驗(yàn)．DC插頭耐久試驗(yàn)．連接器插拔耐久試驗(yàn)．筆插拔耐久試驗(yàn)．觸控屏幕摩擦耐久試驗(yàn)；ON、OFF開(kāi)關(guān)耐久試驗(yàn)。