特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)應(yīng)變片技術(shù)具有無(wú)可比擬的重復(fù)性和精確的3D輪廓測(cè)量。零復(fù)位誤差。無(wú)各向同性影響。6向測(cè)量能力測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100 mm(GF測(cè)針)快速測(cè)頭模塊交換,無(wú)需重新標(biāo)定測(cè)尖壽命 1000萬(wàn)次觸發(fā)頂TP200/TP200B測(cè)頭體TP200采用微應(yīng)變片傳感器,實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和精確的3D輪廓測(cè)量,即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性,并且消除了
機(jī)械式測(cè)頭存在的各向異性問(wèn)題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件,確保了在數(shù)百萬(wàn)次觸發(fā)中的可靠操作。TP200B采用的技術(shù)與TP200相同,但設(shè)計(jì)具有更高的振動(dòng)公差。這有助于克服因測(cè)量機(jī)傳導(dǎo)振動(dòng)或在定位速度很高的情況下使用長(zhǎng)測(cè)針?biāo)l(fā)的“空氣”觸發(fā)問(wèn)題。請(qǐng)注意,我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄/星型測(cè)針。TP200測(cè)針模塊測(cè)針模塊通過(guò)高重復(fù)性磁性接頭安裝在TP200/TP200B測(cè)頭體上,具有快速測(cè)針交換功能和測(cè)頭超程保護(hù)功能。有三種測(cè)針模塊可供選擇,具有兩種不同的超程力。模塊SF(標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力)LF(低測(cè)力)EO(長(zhǎng)超程)應(yīng)用一般使用。小直徑測(cè)針球頭或必須使用最小測(cè)力的場(chǎng)合。額外超程使坐標(biāo)測(cè)量機(jī)在較高的測(cè)量速度下安全停機(jī)。注釋測(cè)針最長(zhǎng)可達(dá)100 mm,測(cè)球直徑 1 mm。測(cè)球直徑小于1 mm。與SF的超程力相同。測(cè)頭Z軸的額外超程為8 mm。