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型號(hào):Ф12探頭(即Ф10探頭)
直徑:晶片的直徑尺寸為Ф10mm
頻率:5M
測(cè)量范圍:階梯試塊:1.0-250mm
大平板:最大厚度值為120-130mm左右
工作溫度:-12~ 60℃
適用場(chǎng)合:測(cè)厚探頭,主要用于測(cè)量表面平面厚度值較大的材料;以及表面積較大的平板材料。